TY - JOUR AU - Kordina, O. AU - Björketun, L. O. AU - Herry, A. AU - Hallin, C. AU - Glass, R. C. AU - Hultman, L. AU - Sundgren, J. E. AU - Janzen, E. PY - 1995 DA - 1995// JO - J. Cryst. Growth VL - 154 UR - https://doi.org/10.1016/0022-0248(95)00136-0 DO - 10.1016/0022-0248(95)00136-0 ID - Kordina1995 ER - TY - BOOK AU - Pelletier, M. J. PY - 1999 DA - 1999// TI - Analytical applications of Raman spectroscopy PB - Blackwell Science CY - UK ID - Pelletier1999 ER - TY - JOUR AU - Nakashima, S. AU - Tahara, K. PY - 1989 DA - 1989// JO - Phys. Rev. B VL - 40 UR - https://doi.org/10.1103/PhysRevB.40.6339 DO - 10.1103/PhysRevB.40.6339 ID - Nakashima1989 ER - TY - JOUR AU - Nakashima, S. AU - Harima, H. AU - Tomita, T. AU - Suemoto, T. PY - 2000 DA - 2000// JO - Phys.Rev. B VL - 62 UR - https://doi.org/10.1103/PhysRevB.62.16605 DO - 10.1103/PhysRevB.62.16605 ID - Nakashima2000 ER - TY - JOUR AU - Nakashima, S. AU - Harima, H. PY - 1997 DA - 1997// JO - Phys. Stat. Sol. A VL - 162 UR - https://doi.org/3.0.CO;2-L DO - 3.0.CO;2-L ID - Nakashima1997 ER - TY - JOUR AU - Takeuchi, T. AU - Amano, H. AU - Hiramatsu, K. AU - Sawaki, N. AU - Akasaki, I. PY - 1991 DA - 1991// JO - J. Cryst. Growth VL - 115 UR - https://doi.org/10.1016/0022-0248(91)90817-O DO - 10.1016/0022-0248(91)90817-O ID - Takeuchi1991 ER - TY - JOUR AU - Zubrilov, A. S. AU - Melnik, Y. u. V. AU - Nikolaev, A. E. PY - 1999 DA - 1999// JO - Semiconductors VL - 33 UR - https://doi.org/10.1134/1.1187866 DO - 10.1134/1.1187866 ID - Zubrilov1999 ER - TY - BOOK AU - Kukushkin, S. A. AU - Osipov, A. V. AU - Feoktistov, N. A. PY - 2008 DA - 2008// TI - Patent RF No 2008102398 ID - Kukushkin2008 ER - TY - JOUR AU - Kukushkin, S. A. AU - Osipov, A. V. PY - 2008 DA - 2008// JO - Phys. Solid State VL - 50 UR - https://doi.org/10.1134/S1063783408070081 DO - 10.1134/S1063783408070081 ID - Kukushkin2008 ER - TY - JOUR AU - Scholz, R. AU - Gösele, U. AU - Niemann, E. AU - Wischmeyer, F. PY - 1997 DA - 1997// JO - Appl. Phys. A VL - 64 UR - https://doi.org/10.1007/s003390050452 DO - 10.1007/s003390050452 ID - Scholz1997 ER - TY - JOUR AU - Severino, A. AU - D’Arrigo, G. AU - Bongiorno, C. AU - Scalese, S. AU - La Via, F. AU - Foti, G. PY - 2007 DA - 2007// JO - J.Appl. Phys VL - 102 UR - https://doi.org/10.1063/1.2756620 DO - 10.1063/1.2756620 ID - Severino2007 ER - TY - JOUR AU - Li, J. P. AU - Steckl, A. J. PY - 1995 DA - 1995// JO - J. Electrochem. Soc VL - 142 ID - Li1995 ER - TY - JOUR AU - Attenberger, W. AU - Lindner, J. AU - Cimalla, V. AU - Pezoldt, J. PY - 1999 DA - 1999// JO - Mater. Sci. Eng. B VL - 61/62 UR - https://doi.org/10.1016/S0921-5107(98)00470-X DO - 10.1016/S0921-5107(98)00470-X ID - Attenberger1999 ER - TY - CHAP AU - Choyke, W. J. AU - Matsunami, H. AU - Pensl, G. AU - Taylor, V. I. AU - Francis PY - 1997 DA - 1997// BT - Silicon Carbide—A review of fundamental questions and applications to current device technology ID - Choyke1997 ER - TY - JOUR AU - Temple, P. A. AU - Hathaway, C. E. PY - 1973 DA - 1973// JO - Phys. Rev. B VL - 7 UR - https://doi.org/10.1103/PhysRevB.7.3685 DO - 10.1103/PhysRevB.7.3685 ID - Temple1973 ER - TY - JOUR AU - Feng, Z. C. AU - Choyke, W. J. AU - Powell, J. A. PY - 1988 DA - 1988// JO - J. Appl. Phys VL - 64 UR - https://doi.org/10.1063/1.341997 DO - 10.1063/1.341997 ID - Feng1988 ER - TY - JOUR AU - Wasyluk, J. AU - Perova, T. S. AU - Kukushkin, S. A. AU - Osipov, A. V. AU - Feoktistov, N. A. AU - Grudinkin, S. A. PY - 2010 DA - 2010// JO - Mater. Sci. Forum VL - 645–648 UR - https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.359 DO - 10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.359 ID - Wasyluk2010 ER - TY - JOUR AU - Sorokin, L. M. AU - Veselov, N. V. AU - Shcheglov, M. P. AU - Kalmykov, A. E. AU - Sitnikova, A. A. AU - Feoktistov, N. A. AU - Osipov, A. V. AU - Kukushkin, S. A. PY - 2008 DA - 2008// JO - Techn. Phys. Let VL - 34 UR - https://doi.org/10.1134/S1063785008110278 DO - 10.1134/S1063785008110278 ID - Sorokin2008 ER - TY - JOUR AU - Lysenko, V. AU - Barbier, D. AU - Champagnon, B. PY - 2001 DA - 2001// JO - Appl. Phys.Lett VL - 79 UR - https://doi.org/10.1063/1.1409278 DO - 10.1063/1.1409278 ID - Lysenko2001 ER - TY - JOUR AU - Gregora, I. AU - Champagnon, B. AU - Saviot, L. AU - Monin, Y. PY - 1995 DA - 1995// JO - Thin Solid Film VL - 255 UR - https://doi.org/10.1016/0040-6090(94)05639-U DO - 10.1016/0040-6090(94)05639-U ID - Gregora1995 ER - TY - JOUR AU - Wang, Y. Y. AU - Ni, Z. H. AU - Shen, Z. X. AU - Wang, H. M. AU - Wu, Y. H. PY - 2008 DA - 2008// JO - Appl. Phys. Lett VL - 92 UR - https://doi.org/10.1063/1.2838745 DO - 10.1063/1.2838745 ID - Wang2008 ER - TY - STD TI - Dyakov S, Wasyluk J, Perova TS(in preparation) (in preparation) ID - ref22 ER - TY - STD TI - Aksyanov IG, Bessolov VN, Zhilyaev Yu.V, Kompan ME, Konenkova EV, Kukushkin SA, Osipov AV, Feoktistov NA, Sharofidinov Sh, Shcheglov MP: Semiconductors. (submitted for publication) (submitted for publication) ID - ref23 ER -